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FEI“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率场发射扫描电子显微镜
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FEI“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率场发射扫描电子显微镜

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产品描述

型号:Nova NanoSEM 50

详细描述

Nova 系列扫描电子显微镜 (SEM) 具有低真空功能,是满足研究实验室、半导体和数据存储实验室和制造工厂、生物和生命科学实验室及其他行业各种成像、分析和样品制备需求的理想之选。 Nova 系统包含 EBIC、冷冻样品台、STEMEDSWDS EBSD

技术参数:

分辨率 高真空

30 kV (STEM)

15 kV (TLD)

1 kV (TLD、无 BD)

100 V (DBS)

15 kV, 5 nA

0.8 nm

1.0 nm

1.4 nm

3.5 nm

3.0 nm

分辨率 低真空

3 kV 30 Pa (Helix)

10 kV

1.8 nm

1.5 nm

射束电流

高达 200 nA

着陆电压范围

50 V - 30 kV

样品台

X x Y x Z (mm)

110 x 110 x 25

150 x 150 x 10

机室

大试件室

探测

透镜内

透镜下、大角度探测器

TLD SE BSE

高灵敏度 DBS (SE/BSE)



主要特点:

场发射 SEM、超稳定高电流 Schottky 电子枪

先进的光学和探测技术,包括沉浸模式、射束减速、透镜内 TLD-SE TLD–BSEDBS STEM,可实现最佳信息选择和图像优化

低至 50 V 的射束着陆能量

• 1.4 nm @ 1 kV、无射束减速

全球唯一真正高分辨率的低真空 FESEM 1.8 nm @ 3 kV 30 Pa

高达 200 nA 的高真空或低真空分析

整合式 16 位扫描/制图引擎

超洁净、无油滚动和涡轮抽气真空系统

• 150 x 150 mm 高精密、高稳定压电样品台 (Nova NanoSEM 650)